HTHL-100A回路電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)單介紹

目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無法真實(shí)的反映接觸電阻值。

HTHL-100A回路電阻測(cè)試儀  的詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特征

1、大電流：回路電阻測(cè)試儀采用電源技術(shù)，能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流，克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果
　　2、抗干擾能力強(qiáng)：在嚴(yán)重干擾條件下，液晶屏后一位數(shù)據(jù)能穩(wěn)定在±1個(gè)字范圍內(nèi)，讀數(shù)穩(wěn)定，重復(fù)性好
　　3、本回路電阻測(cè)試儀使用壽命長(zhǎng)：全部采用高精度電阻，有效的消除環(huán)境溫度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，同時(shí)接插件的使用增強(qiáng)了抗振性能
　　4、攜帶方便：體積小、重量輕

產(chǎn)品參數(shù)

簡(jiǎn)單介紹

目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無法真實(shí)的反映接觸電阻值。

簡(jiǎn)單介紹

目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無法真實(shí)的反映接觸電阻值。

簡(jiǎn)單介紹

目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無法真實(shí)的反映接觸電阻值。

簡(jiǎn)單介紹

目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無法真實(shí)的反映接觸電阻值。

簡(jiǎn)單介紹

目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而類電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無法真實(shí)的反映接觸電阻值。